某植物的高秆（D）对矮秆（d）显性，抗锈病（T）对易感病（t）显性，两对基因位于两对同源染色体上。下列对DdTt和Ddtt杂交后代的预测中错误的是
A．由于基因突变，后代可出现DDdTt类型
B．由于基因重组，后代可出现矮秆抗锈病类型
C．由于等位基因分离，后代可出现矮秆类型
D．由于自然选择，后代的T基因频率可能上升
相关试题
下图是真核生物信使RNA合成过程图，请根据图判断下列说法中正确的是：
| A．R所示的节段①正处于解旋状态，形成这种状态需要氢键断裂 |
| B．图中②是以4种脱氧核苷酸为原料合成的 |
| C．如果图中③表示酶分子，则它的名称是DNA聚合酶 |
| D．图中的②合成后，作为模板，一定能翻译出相应的蛋白质 |
下列是关于DNA分子复制过程环节的描述，正确顺序是
①互补碱基对间氢键断裂②互补碱基对间形成氢键③以解旋后的母链为模板进行碱基互补配对④子链与母链盘旋成双螺旋结构
| A．③①②④ | B．①③④② | C．①④③② | D．①③②④ |
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