利用薄膜干涉可检查工件表面的平整度．如图（a）所示,现使透明标准板M和待检工件N间形成一楔形空气薄层,并用单色光照射,可观察到如图（b）所示的干涉条纹,条纹的弯曲处P和Q对应于A和B处,下列判断中正确的是（ ）
| A．N的上表面A处向上凸起 |
| B．N的上表面B处向上凸起 |
| C．条纹的cd点对应处的薄膜厚度相同 |
| D．条纹的d．e点对应处的薄膜厚度相同 |
相关试题
在物理学发展的过程中，许多物理学家的科学研究推动了人类文明的进程。在对以下几位物理学家所作科学贡献的叙述中，正确的说法是 （ ）
| A．牛顿应用“理想斜面实验”推翻了亚里士多德的 “力是维持物体运动的原因”观点 |
| B．开普勒揭示了行星的运动规律，为牛顿万有引力定律的发现奠定了基础 |
| C．安培通过多年的研究，发现了电流周围存在磁场 |
| D．麦克斯韦预言了电磁波的存在，后来被赫兹所证实 |
当电流垂直于外磁场通过导体时，在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势差，这一现象便是霍尔效应，这个电势差也被叫做霍尔电压。科学技术中常常利用霍尔效应测定磁场的磁感应强度。如图11所示为一金属导体，规格已在图中标出，若已知通过导体的电流为I，电压表示数为U，电子的电荷量为e，则被测匀强磁场（磁场方向垂直于前后表面）的磁感应强度大小为（已知电流的微观表达式为I=nsvq，其中n为导单位体积内的自由电荷数，s为导体的截面积，v为电荷定向移动的速率，q为电荷的带电量）（ ）
A． |
B． |
C． |
D． |
加速电场和偏转磁场是质谱仪的两大重要组成部分。如图9为质谱仪的原理简图，设想有一个静止的质量为m、带电量为q的粒子（不计重力），经电压为U的加速电场加速后垂直进入磁感应强度为B的偏转磁场中，带电粒
子打至底片上的P点，设OP=x，则在图10中能正确反映x与U之间函数关系的是（ ）
如图8所示， 分别为mA、mB的A、B两物块用轻线连
接放在倾角为θ的斜面上，用始终平行于斜面向上的恒定拉力F拉A，使A、B沿斜面向上一起做匀加速运动，A、
B与斜面的动摩擦因数均为μ，为了增大细线上的张力，下列办法可行的是（ ）
A.仅增大A的质量mA 
B.仅增大B的质量mB
C.仅增大斜面倾角θ（F仍平
行于斜面）
D.仅增大动摩擦因数μ
粤公网安备 44130202000953号