一个闭合回路由两部分组成，如图所示，右侧是电阻为r的圆形导线，置于竖直方向均匀变化的磁场B1中；左侧是光滑的倾角为θ的平行导轨，宽度为d，其电阻不计．磁感应强度为B2的匀强磁场垂直导轨平面向上，且只分布在左侧，一个质量为m、电阻为R的导体棒此时恰好能静止在导轨上，分析下述判断正确的有：（ ）
| A．圆形线圈中的磁场可以是向上均匀减弱 |
| B．导体棒ab受到的安培力大小为mgsin θ |
C．回路中的感应电流为 |
D．圆形导线中的电热功率为 (r＋R) |
相关试题
如图13-4-7所示，用单色光照射透明标准板M来检查平面N的上表面的平滑情况，观察到的现象如图所示的条纹中的P和Q的情况，这说明( )
图13-4-7
| A．N的上表面A处向上凸起 | B．N的上表面B处向上凸起 |
| C．N的上表面A处向下凹陷 | D．N的上表面B处向下凹陷 |
如图13-4-13所示为一显示薄膜干涉现象的实验装置，P是附有肥皂膜的铁丝圈，S是一点燃的酒精灯.往火焰上洒些盐后，在肥皂膜上观察到的干涉图象应是下图中的（）
图13-4-13
如图13-4-11所示，两束平行的红光和紫光，相距为d,斜射到玻璃砖上.当它们从玻璃砖的下面射出时（）
图13-4-11
| A．两条出射光线仍平行，但距离大于d |
| B．两条出射光线仍平行，但距离小于d |
| C．两条出射光线仍平行，距离仍为d |
| D．两条出射光线将不再平行 |
如图13-4-10所示是用干涉法检测平凸透镜磨制的是否符合要求的装置.A是被检测的平凸透镜，B是具有一定曲率的标准件.若二者完全吻合，则看不到圆环状干涉条纹，若不完全吻合，即二者间有一层空气膜时，则可观察到圆环状干涉条纹.实验时单色光从正上方入射，那么所观察到的圆环状干涉条纹是由下列哪两个表面反射的光线叠加产生的（）
图13-4-10
| A．平凸透镜的上表面和下表面 |
| B．平凸透镜的上表面和空气膜的上表面 |
| C．空气膜的上表面和下表面 |
| D．标准件的上表面和下表面 |
相关知识点
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