如右图是质谱仪的工作原理示意图．带电粒子被加速电场加速后，进入速度选择器．速度选择器内相互正交的匀强磁场和匀强电场的强度分别为B和E.平板S上有可让粒子通过的狭缝P和记录粒子位置的胶片A1A2.平板S下方有强度为B0的匀强磁场．下列表述正确的是
| A．质谱仪是分析同位素的重要工具 |
| B．速度选择器中的磁场方向垂直纸面向外 |
| C．能通过狭缝P的带电粒子的速率等于E/B |
| D．粒子打在胶片上的位置越靠近狭缝P，粒子的比荷越小 |
相关试题
如图13-4-13所示为一显示薄膜干涉现象的实验装置，P是附有肥皂膜的铁丝圈，S是一点燃的酒精灯.往火焰上洒些盐后，在肥皂膜上观察到的干涉图象应是下图中的（ ）
图13-4-13
如图13-4-11所示，两束平行的红光和紫光，相距为d,斜射到玻璃砖上.当它们从玻璃砖的下面射出时（ ）
图13-4-11
| A．两条出射光线仍平行，但距离大于d |
| B．两条出射光线仍平行，但距离小于d |
| C．两条出射光线仍平行，距离仍为d |
| D．两条出射光线将不再平行 |
如图13-4-10所示是用干涉法检测平凸透镜磨制的是否符合要求的装置.A是被检测的平凸透镜，B是具有一定曲率的标准件.若二者完全吻合，则看不到圆环状干涉条纹，若不完全吻合，即二者间有一层空气膜时，则可观察到圆环状干涉条纹.实验时单色光从正上方入射，那么所观察到的圆环状干涉条纹是由下列哪两个表面反射的光线叠加产生的（ ）
图13-4-10
| A．平凸透镜的上表面和下表面 |
| B．平凸透镜的上表面和空气膜的上表面 |
| C．空气膜的上表面和下表面 |
| D．标准件的上表面和下表面 |
如图13-4-9一个小的光源S发出白光，经三棱镜色散.若人沿着折射光线的反方向观察，通过棱镜可以看到（ ）
图13-4-9
| A．白光点 |
| B．光点上部红色，下部紫色 |
| C．光点上部紫色，下部红色 |
| D．看不到光源的像 |
相关知识点
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